Дом » Продукция » SMT Equipment Acce »

SMT Offline AOI Инспекционное оборудование

SMT Offline AOI Инспекционное оборудование


Размер:	SD-680 SD-880
Доступность:

Количество:

Запросить Добавить в корзину

Модель:
SD-680
Бренд:
Шэндиан

SMT Offline Inspection Equipment Afection Suctrive (автоматическая оптическая проверка)-это система оптической проверки, независимая от производственной линии, в основном используемой для углубленного анализа качества сборки печатной платы (PCB) и оптимизации процесса в электронном производстве. Его основные функции и преимущества заключаются в следующем:
Основные функции
‌in Depte Defect Defection
выполняет высокую проверку полного осмотра на ПХД, которые были завершены с размещением компонентов или пайком, идентифицируя дефекты, такие как неуместные компоненты, отсутствующие компоненты, обратная полярность, смещение и тома и паяные шарики в пайке.
Поддерживает технологию 3D -сканирования, чтобы точно измерить высоту и морфологию припоя и морфологию, обнаруживая проблемы скрытых припов в BGA, QFN и других компонентах.
Процесс, управляемый данными,
анализирует данные проверки с использованием SPC (статистическое управление процессом) для генерации карт распределения дефектов, тенденций выхода первого прохождения и других отчетов, предоставляя основу для корректировки параметров размещения, давления печати припоя и других процессов.
Тематическое исследование: Компания снижала скорости дефектов при приповне с 0,8% до 0,03% в результате анализа данных AOI AOI.
Гибкая адаптация к нескольким сценариям
‌-совместимо как с выборкой, так и полной проверкой: может провести полную проверку на наличие мелких продуктов с высокой надежностью (например, медицинская, автомобильная электроника) или проверка качества отбора проб на продуктах с крупными продуктами.
‌Non-реальное вмешательство: действует независимо от производственной линии, при этом процесс проверки не влияет на время цикла основного цикла, что делает его подходящим для углубленного анализа сложных плат с высокой сложностью ремонта.